联系电话
13810146393
邮箱地址
lina-he@zolix.com.cn
QQ客服
3496415981
网站首页
关于我们
产品展示
新闻资讯
技术支持
资料下载
在线留言
联系我们
产品目录
/ PRODUCT MENU
工业分析
半导体光学参数检测
查看全部 >>
相关技术文章
/ ARTICLES
供应链自主可控!国产 IsCMOS 相机打破科研相机长期进口依赖
太阳模拟器设备你知道多少?
国产自主破局!赢多多汉光 ZDH 气浮隔振腿攻克贸易壁垒,赋能精密制造新高度
产品展示
您现在的位置:
首页
>
产品展示
>
工业分析
>
深紫外宽禁带半导体荧光测试OminFluo990
深紫外光电流测试系统DSR300-DUV
SPM300半导体晶圆应力与载流子浓度检测仪
半导体晶圆缺陷与少子寿命测试系统-SPM900
晶圆缺陷参数检测 : 非接触测试解决方案
晶圆缺陷检测:宽场荧光显微成像模组
半导体缺陷检测:自动化显微成像模组
共 7 条记录,当前 1 / 1 页 首页 上一页 下一页 末页 跳转到第
页
北京赢多多汉光仪器有限公司 版权所有 备案号:
京ICP备05015148号-4
技术支持:
化工仪器网
管理登陆
网站地图
咨询在线客服
联系电话:
010-5637 0168-696
微信服务号